Highly n-doped, tensile-strained Ge grown on Si by molecular beam epitaxy

“Highly n-doped, tensile-strained Ge grown on Si by molecular beam epitaxy”

Keisuke Nishida, Xuejun Xu, Kentarou Sawano, Takuya Maruizumi, Yasuhiro Shiraki

Thin Solid Films 557, 66-69 (2014) DOI: https://doi.org/10.1016/j.tsf.2013.10.082(外部サイト)

東京都市大学 ナノエレクトロニクス研究室

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